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Microscopy Microanalysis Microstructures
出版商：EDP Sciences · ISSN：1154-2799, 2777-3558 · 国家/地区：FR · 类型：journal
研究主题：Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques · Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications · Ion-surface interactions and analysis · Force Microscopy Techniques and Applications · Advanced Materials Characterization Techniques
数据覆盖：5 个公开学术数据源交叉核验（crossref、openalex、scimago、wikidata、cwts）。
数据来源与实体核验
核心指标
- SJR:0.518(Q2)，2000 年，France
- CWTS 2000:SNIP 1.086 · IPP 0.794 · 自引率 0.0%
- h-index:34
- i10 指数:125
- 载文量 451 · 总被引 5474
- Crossref DOI 总量:451
逐年趋势
- 近年 SJR:1999 0.44(Q2) → 2000 0.518(Q2)