LEEDpat
分类：化学 · 材料 · 光谱 · 标签：材料表征 / 晶体学 / 衍射模拟 / 表面物理 / LEED / 数据拟合
低能电子衍射图案模拟与比对
LEEDpat 是由德国 Fritz Haber 研究所 Klaus Hermann 与香港浸会大学 M. A. Van Hove 开发的低能电子衍射（LEED）图案可视化与分析工具。用户可选择方形、六方、矩形或斜方等二维基底点阵及任意 17 种二维空间群，软件随即绘制实空间点阵与对应的倒易空间 LEED 斑点图，并支持对称等价的畴取向叠加。它主要用于解读有序表面（尤其含超结构/重构时）的实验 LEED 图案、判断表面对称性并缩小可能的结构模型范围。注意它只做几何层面的图案模拟与对称性分析，不计算斑点强度，也不直接反演原子坐标。