总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响

作者：苏丹丹, 周航, 郑齐文, 崔江维, 孙静, 马腾, 魏莹, 余学峰, 郭旗 · 年份：2018 · DOI：10.13911/J.CNKI.1004-3365.170138