基于多尺度特征融合的轻量化绝缘子缺陷检测

作者：孙铁强 Sun Tieqiang, 洪兆志 Hong Zhaozhi, 宋超 Song Chao, 肖鹏程 Xiao Pengcheng · 发表于：Laser & Optoelectronics Progress · 年份：2025 · DOI：10.3788/lop241864 · 被引用次数：2