用于冷光学长波红外杜瓦组件杂散光分析与抑制

作者：朱海勇 Zhu Haiyong, 陈俊林 Chen Junlin, 曾智江 Zeng Zhijiang, 王小坤 Wang Xiaokun, Yaran Li, 王溪 Wang Xi, 李雪 Li Xue · 发表于：Infrared and Laser Engineering · 年份：2023 · DOI：10.3788/irla20220823 · 被引用次数：5 · 研究领域：Calibration and Measurement Techniques、Radiative Heat Transfer Studies、Advanced Sensor Technologies Research

红外谱段（8~12.5 μm）作为红外对地光学载荷的主要探测谱段，在对地遥感领域发挥着重要的作用。以红外成像仪载荷的杜瓦组件为研究对象，宽幅高分辨率红外系统的光机结构作为输入边界，分析了关键面对系统杂散光的影响。为了抑制杂散光和降低背景辐射，利用柔性波纹管隔热实现200 K窗口和窗口帽低温设计。进一步分析了杜瓦组件窗口、窗口外壳、冷屏结构及表面处理工艺等对杜瓦内部杂散光的影响。冷屏采用三级挡板设计，滤光片为三波段集成，同时在考虑装配和加工精度的情况下，冷屏和滤光片支架采用分离方式。卫星红外成像仪载荷在轨运行良好，成像效果较好。为杜瓦设计和加工选择提供了一定依据。