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Nanomanufacturing and Metrology

出版商：Springer-Verlag · ISSN：2520-811X, 2520-8128 · 国家/地区：SG · 类型：journal · 官网：https://www.springer.com/journal/41871

研究主题：Advanced Surface Polishing Techniques · Advanced Measurement and Metrology Techniques · Advanced machining processes and optimization · Force Microscopy Techniques and Applications · Optical measurement and interference techniques

数据覆盖：9 个公开学术数据源交叉核验（crossref、fqb、jcr、openalex、scimago、submission、wikidata、xr、cwts）。

数据来源与实体核验

期刊官网 · OpenAlex 期刊实体 · Wikidata 期刊实体

核心指标

影响因子(JCR 2025):6.500
JCR 分区:Q1(ENGINEERING, MANUFACTURING)
中科院分区(2025):工程技术 4区，大类排名 1437/1437;小类:Engineering, Manufacturing 工程：制造 4区，排名 70/70
新锐分区(2026):工程技术 2区
SJR:0.662(Q1)，2025 年，Netherlands
CWTS 2025:SNIP 1.613 · IPP 5.449 · 自引率 3.4%
h-index:33
i10 指数:132
近两年篇均被引:6.99
载文量 296 · 总被引 4072
Crossref DOI 总量:294，近期 88

逐年趋势

近年影响因子:2024 4.5
近年 SJR:2021 0.975(Q1) → 2022 0.694(Q1) → 2023 0.561(Q2) → 2024 0.672(Q2) → 2025 0.662(Q1)

投稿参考

版面费(APC)约 $2090 USD(以期刊官网为准)
提供 LaTeX 投稿模板(sn-jnl.cls)
提供投稿指南
摘要字数限制:250 字
关键词数量:4–6 个
同行评审模式:双盲
参考文献表样式:vancouver
正文引用形式:上标编号
图稿文件格式:EPS、TIFF、PDF、AI
彩色图分辨率:1200 DPI
投稿文件格式:latex、docx、word、pdf
AI 使用披露:要求披露
人/动物研究要求:要求 / 提供
开放获取选项:可选
Highlights:要求 / 提供
指南解析完整度:完整结构化数据

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常见问题

《Nanomanufacturing and Metrology》的影响因子是多少?

根据 JCR 2025 年数据,《Nanomanufacturing and Metrology》的最新影响因子(IF)为 6.500。

《Nanomanufacturing and Metrology》是几区期刊?

《Nanomanufacturing and Metrology》中科院分区(2025年版)为工程技术4区,JCR 分区为 Q1。

《Nanomanufacturing and Metrology》的版面费(APC)是多少?

根据 OpenAlex 收录的价目,《Nanomanufacturing and Metrology》的文章处理费(APC)约为 $2090 美元。实际费用与豁免政策请以期刊官网为准。

《Nanomanufacturing and Metrology》采用什么同行评审模式?

结构化投稿指南显示,《Nanomanufacturing and Metrology》采用双盲审稿。投稿政策可能更新,提交前请在期刊官网复核。

《Nanomanufacturing and Metrology》的投稿字数限制是多少?

结构化投稿指南显示,《Nanomanufacturing and Metrology》摘要字数限制为 250 字。具体要求应按文章类型并以期刊官网最新版为准。