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Поверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования

出版商：Pleiades Publishing · ISSN：0207-3528 · 国家/地区：RU · 类型：journal

研究主题：Legal and Regulatory Analysis · Linguistic, Cultural, and Literary Studies · Military Technology and Strategies · Chalcogenide Semiconductor Thin Films · Phase-change materials and chalcogenides

数据覆盖：4 个公开学术数据源交叉核验（crossref、openalex、scimago、wikidata）。

数据来源与实体核验

OpenAlex 期刊实体 · Wikidata 期刊实体 · Wikidata 英文名:Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya

核心指标

SJR:0.104(Q4)，2008 年，Russian Federation
h-index:6
载文量 1854 · 总被引 731
Crossref DOI 总量:1854

逐年趋势

近年 SJR:2004 0.108(Q4) → 2005 0.104(Q4) → 2006 0.11(Q4) → 2007 0.114(Q4) → 2008 0.104(Q4)