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Russian Microelectronics

出版商：Pleiades Publishing · ISSN：1063-7397, 1608-3415 · 国家/地区：RU · 类型：journal · 官网：https://www.springer.com/journal/11180

研究主题：Semiconductor materials and devices · Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design · Semiconductor materials and interfaces · Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis · Semiconductor Quantum Structures and Devices

数据覆盖：6 个公开学术数据源交叉核验（crossref、openalex、scimago、wikidata、cwts、jufo）。

数据来源与实体核验

期刊官网 · OpenAlex 期刊实体 · Wikidata 期刊实体

核心指标

• SJR:0.156(Q4)，2025 年，United States
• CWTS 2025:SNIP 0.269 · IPP 0.325 · 自引率 23.1%
• JUFO 出版渠道等级:芬兰 0 · 挪威 1
• h-index:24
• i10 指数:147
• 近两年篇均被引:0.45
• 载文量 2116 · 总被引 5994
• Crossref DOI 总量:2054，近期 332

逐年趋势

• 近年 SJR:2021 0.188(Q4) → 2022 0.244(Q3) → 2023 0.182(Q4) → 2024 0.194(Q4) → 2025 0.156(Q4)