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X-Ray Optics and Instrumentation
出版商：Hindawi Limited · ISSN：1687-7632, 1687-7640 · 国家/地区：EG · 类型：journal · 官网：http://www.hindawi.com/journals/xroi
研究主题：Advanced X-ray Imaging Techniques · X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis · Astrophysical Phenomena and Observations · Advanced X-ray and CT Imaging · Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
数据覆盖：5 个公开学术数据源交叉核验（crossref、openalex、scimago、wikidata、cwts）。
数据来源与实体核验
期刊官网 · OpenAlex 期刊实体 · Wikidata 期刊实体
核心指标
- SJR:0.558(Q2)，2014 年，United States
- CWTS 2014:SNIP 3.074 · IPP 3.000 · 自引率 0.0%
- h-index:15
- i10 指数:18
- 载文量 28 · 总被引 593
- Crossref DOI 总量:27
逐年趋势
- 近年 SJR:2011 0.274(Q3) → 2012 0.258(Q3) → 2013 0.565(Q2) → 2014 0.558(Q2)