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Revue de Physique Appliquée

出版商：EDP Sciences · ISSN：0035-1687, 2777-3671 · 国家/地区：FR · 类型：journal

研究主题：Semiconductor materials and interfaces · Silicon and Solar Cell Technologies · Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques · Semiconductor materials and devices · Nuclear Physics and Applications

数据覆盖：3 个公开学术数据源交叉核验（crossref、openalex、wikidata）。

数据来源与实体核验

OpenAlex 期刊实体 · Wikidata 期刊实体

核心指标

• h-index:56
• i10 指数:629
• 载文量 3231 · 总被引 25221
• Crossref DOI 总量:3230

本刊近期代表论文

• Longueur de diffusion des porteurs minoritaires et structure de jonction des diodes Cu/Cu2O (1980 · 被引 7)
• Conversion photovoltaïque dans Cu2O (1979 · 被引 27)