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Microelectronics Reliability

出版商：Elsevier · ISSN：0026-2714, 1872-941X · 国家/地区：GB · 类型：journal · 官网：https://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliabili...

研究主题：Semiconductor materials and devices · Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis · Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design · Electronic Packaging and Soldering Technologies · Reliability and Maintenance Optimization

数据覆盖：9 个公开学术数据源交叉核验（crossref、fqb、jcr、openalex、scimago、submission、xr、cwts、jufo）。

数据来源与实体核验

期刊官网 · OpenAlex 期刊实体

核心指标

影响因子(JCR 2025):2.500
JCR 分区:Q3(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)
中科院分区(2025):工程技术 3区，大类排名 547/1437;小类:PHYSICS, APPLIED 物理：应用 3区，排名 87/178
新锐分区(2026):工程技术 4区
SJR:0.464(Q2)，2025 年，United Kingdom
CWTS 2025:SNIP 1.024 · IPP 2.387 · 自引率 9.2%
JUFO 出版渠道等级:芬兰 1 · 挪威 1 · 丹麦 1
h-index:132
i10 指数:5101
近两年篇均被引:2.46
载文量 31072 · 总被引 204160
Crossref DOI 总量:30705，近期 760

逐年趋势

近年影响因子:2021 1.42 → 2022 1.6 → 2023 1.6 → 2024 1.9 → 2025 2.5
近年 SJR:2021 0.452(Q2) → 2022 0.364(Q2) → 2023 0.394(Q2) → 2024 0.436(Q2) → 2025 0.464(Q2)

投稿参考

版面费(APC)约 $2280 USD(以期刊官网为准)
提供 LaTeX 投稿模板(elsarticle.cls)
提供投稿指南
关键词数量:最多 6 个
同行评审模式:单盲
参考文献表样式:vancouver
正文引用形式:上标编号
图稿文件格式:EPS、TIFF、PDF、JPEG、AI
彩色图分辨率:300 DPI
投稿文件格式:latex、docx、word、pdf
投稿方式:在线投稿系统
伦理与报告规范:SAGER
AI 使用披露:要求披露
开放获取选项:可选
图文摘要:要求 / 提供
Highlights:要求 / 提供
指南解析完整度:完整结构化数据
在线投稿系统:期刊官方投稿入口

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常见问题

《Microelectronics Reliability》的影响因子是多少?

根据 JCR 2025 年数据,《Microelectronics Reliability》的最新影响因子(IF)为 2.500。

《Microelectronics Reliability》是几区期刊?

《Microelectronics Reliability》中科院分区(2025年版)为工程技术3区,JCR 分区为 Q3。

《Microelectronics Reliability》的版面费(APC)是多少?

根据 OpenAlex 收录的价目,《Microelectronics Reliability》的文章处理费(APC)约为 $2280 美元。实际费用与豁免政策请以期刊官网为准。

《Microelectronics Reliability》采用什么同行评审模式?

结构化投稿指南显示,《Microelectronics Reliability》采用单盲审稿。投稿政策可能更新,提交前请在期刊官网复核。